LD TO老化测试系统

LD TO老化测试系统

- 类别:TO测试设备 - 品牌:唐领科技

LD-1536x-B01 LD TO老化测试系统是独立提供”每颗”待测组件电流及电压源

产品概述

LD-1536x-B01 LD TO老化测试系统是独立提供”每颗”待测组件电流及电压源。

具有以下优点:

1. 系统均温度性稳定,机台的均温性< +/-2℃。

2. 实时侦测并记录每颗待测组件是否有”确实”进行老化测试流程, 以利后续追踪。

3. 与自动盘测机之测试板兼容共享。


技术参数

系统外观 :

1. 烘箱 (=135x175x220cm)

2. PC x 1

系统输出入电源 :

1. AC 220/1ψ/30A/50Hz 电源输入(烘箱)

2. AC 220/1ψ/20A/50Hz 电源输入(控制器)

3. AC 220/1ψ/10A/50Hz 电源输入(PC)

系统功能 :

1. 烘箱可设定范围 ~150,温度均匀性+/-2

2. 可实时监测 Im & Vop, 以确定各通道确实执行预烧

3. 实时监测 Im & Vop 快速曲线显示

4. 每一通道各别均可通过背光 Im 扫描精准量取Ith

系统条件 :

1. 各信道最大雷射输出电流 200mA±2%

2. 提供 iPD 电压源偏压5~15V+/-5%


选型及配件

系统组成配件 :

1. 高温烘箱 * 1

2. 前后机架 * 1

3. 控制背板 * 24

4. 计算机 * 1

5. 屏幕 * 1


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